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價 格：詢價
產 地：美國更新時間：2020-10-29 18:23
品 牌：Anasys Instruments型 號：AFM+
狀 態：正常點擊量：2011
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內容
主要參數：
平面掃描范圍：<80x80um
平面分辨率：<0.2nm
縱向掃描范圍：>6um
縱向分辨率：<0.2nm
高度噪音：<50pm
載物臺：7mmx9mm，馬達自動控制
工作模式：接觸模式、非接觸模式、敲擊模式
標準模塊：相位、橫向力（摩擦）、力曲線、力調制、靜電力和磁力模塊
選配模塊：導電力模式，表面電勢模塊
光學分辨率：1.5um
光學顯微鏡最大可視場： ～900x600um
散射式近場光學顯微鏡
納米紅外光譜成像顯微鏡
德國FRT原子力顯微鏡AFM
美國Park Systems原子力顯微鏡XE-100
Agilent 5500ILM生命科學掃描探針顯微鏡
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